长江存储日前新增多条专利信息，其中一条名称为“集成电路测试设备及其测试方法”，公布号为CN115078971A。
专利摘要显示，本申请提供了一种集成电路测试设备及其测试方法。包括：接收第一指令，第一指令指示对至少一个目标被测器件执行测试操作；响应于第一指令，产生驱动信号集和选择信号；基于选择信号，结合第一映射表，确定多个被测器件组中每个测试通道的状态，状态包括使能状态、去使能状态其中之一；第一映射表包括测试通道与被测器件组、被测器件的待控管脚、选择信号之间的对应关系；每个被测器件组中的每个被测器件均具有对应的选择信号；根据驱动信号集，结合第二映射表，使得测试通道输出驱动信号；第二映射表包括多个被测器件的多个待控管脚与驱动信号集中的多个驱动信号之间的对应关系；利用驱动信号，对目标被测器件执行测试操作。
【来源：集微网】
